回流焊元器件焊接强度推力测试标准
日期:2024-12-20 16:49
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回流焊元器件焊接强度推力测试标准
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元器件焊接强度推力测试标准 | ||||||||||
NO | 物料名称 | 物料编码 | 检测方式 | 图片 | 试验仪器 | 测试方法 | 推力标准(Kgf) | 实际试验推力(Kgf) | 试验结果 | 判定 结果 |
1 | CHIP0402 | 0602-220J8A-B000 | 推力 |
| 推力计 | 1、消除阻碍0402元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、 ≥0.60Kgf判合格。 | 0.60 | 1.00 | 焊盘未脱 | 合格 |
2 | CHIP0603 | 0602-225K2C-C000 | 推力 |
| 推力计 | 1、消除阻碍0603元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥1.00Kgf判合格。 | 1.00 | 1.30 | 焊盘未脱 | 合格 |
3 | CHIP0805 | 0602-106M2C-D000 | 推力 | 推力计 | 1、消除阻碍0805元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥1.50Kgf判合格。 | 1.50 | 2.10 | 焊盘未脱 | 合格 | |
4 | SIM卡 | 2105-06W129-0010 | 推力 (六个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍SIM卡元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否破裂,记录元器件破裂的数值; 4、≥ 6.00 Kgf 判合格。 | 6.00 | 9.05 | 焊盘未脱,但塑胶变形 | 合格 |
2105-50006P-0000 | 推力 (六个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍SIM卡元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否破裂,记录元器件破裂的数值; 4、≥ 5.00 Kgf 判合格。 | 9.20 | 焊盘未脱,但塑胶变形 | 合格 | |||
2105-CCA242-0000 | 推力(六个脚) (左右方向) |
| 推力计 | 1、消除阻碍SIM卡元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否破裂,记录元器件破裂的数值; 4、≥ 5.00 Kgf 判合格。 | 5.00 | 7.30 | 焊盘未脱,但塑胶变形 | 合格 | ||
5 | 钮扣电池 | 1602-XH414E-0000 | 推力(两个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍钮扣电池元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥ 2.00 Kgf 判合格。 | 2.00 | 3.10 | 焊盘未脱 | 合格 |
1602-XH414E-0010 | 推力(两个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍钮扣电池元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥ 2.00 Kgf 判合格。 | 2.00 | 4.30 | 焊盘未脱 | 合格 | ||
6 | 六脚 IC | 1401-RT9285-0000 | 推力(六个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍6脚 IC元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥2.00Kgf判合格。 | 2.00 | 3.60 | 焊盘脱 | 合格 |
7 | 五脚 IC | 1401-RP103N-0020 | 推力(五个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍5脚 IC元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥2.00Kgf判合格。 | 2.00 | 4.10 | 焊盘未脱 | 合格 |
8 | 晶振 | 2200-T0H260-0000 | 推力(两个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍晶振元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥2.50Kgf判合格。 | 2.50 | 4.30 | 焊盘未脱 | 合格 |
9 | RF连接器 | 2106-2610RM-0000 | 推力(六个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍RF连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥3.00Kgf判合格。 | 3.00 | 8.20 | 焊盘未脱,但RF变形 | 合格 |
10 | 微动开关 | 2001-LS10N2-0000 | 推力(两个脚) |
| 推力计 | 1、检查元器件是否为良品,将元器件平放于平台上; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥5.50 Kgf判合格。 | 5.50 | 6.20 | 焊盘未脱 | 合格 |
11 | 电池连接器 | 2107-BC175W-0000 | 推力 (四个触片/四个脚) | 推力计 | 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥2.70Kgf Kgf判合格。 | 2.70 | 7.60 | 焊盘未脱落,但连接器变形 | 合格 | |
2107-BC5070-0000 | 推力 (三个触片/五个脚) | 推力计 | 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件破裂的力,≥ 3.00 Kgf 判合格。 | 3.00 | 7.50 | 焊盘未脱落,但塑胶破裂变形 | 合格 | |||
2107-BC2715-0000 | 推力 (三个触片/五个脚) | 推力计 | 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件破裂的力,≥ 3.00 Kgf 判合格。 | 3.00 | 7.40 | 焊盘未脱落,但塑胶破裂变形 | 合格 | |||
12 | 耳机插座 | 2114-N01015-0000 | 推力(小) 从插孔处向后推 备注:有定位孔 | 推力计 | 1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥ 8.00 Kgf 判合格。 | 8.00 | 9.10 | 焊盘未脱落,但塑胶破裂变形 | 合格 | |
2103-010150-0000 | 推力(小) 从后向插孔处推 备注:无定位孔 |
| 推力计 | 1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥ 8.00 Kgf 判合格。 | 8.00 | 9.80 | 焊盘未脱落 | 合格 |
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元器件焊接强度推力测试标准 | ||||||||||
NO | 物料名称 | 物料编码 | 检测方式 | 图片 | 试验仪器 | 测试方法 | 推力标准(Kgf) | 实际试验推力(Kgf) | 试验结果 | 判定 结果 |
1 | CHIP0402 | 0602-220J8A-B000 | 推力 |
| 推力计 | 1、消除阻碍0402元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、 ≥0.60Kgf判合格。 | 0.60 | 1.00 | 焊盘未脱 | 合格 |
2 | CHIP0603 | 0602-225K2C-C000 | 推力 |
| 推力计 | 1、消除阻碍0603元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥1.00Kgf判合格。 | 1.00 | 1.30 | 焊盘未脱 | 合格 |
3 | CHIP0805 | 0602-106M2C-D000 | 推力 | 推力计 | 1、消除阻碍0805元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥1.50Kgf判合格。 | 1.50 | 2.10 | 焊盘未脱 | 合格 | |
4 | SIM卡 | 2105-06W129-0010 | 推力 (六个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍SIM卡元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否破裂,记录元器件破裂的数值; 4、≥ 6.00 Kgf 判合格。 | 6.00 | 9.05 | 焊盘未脱,但塑胶变形 | 合格 |
2105-50006P-0000 | 推力 (六个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍SIM卡元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否破裂,记录元器件破裂的数值; 4、≥ 5.00 Kgf 判合格。 | 9.20 | 焊盘未脱,但塑胶变形 | 合格 | |||
2105-CCA242-0000 | 推力(六个脚) (左右方向) |
| 推力计 | 1、消除阻碍SIM卡元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否破裂,记录元器件破裂的数值; 4、≥ 5.00 Kgf 判合格。 | 5.00 | 7.30 | 焊盘未脱,但塑胶变形 | 合格 | ||
5 | 钮扣电池 | 1602-XH414E-0000 | 推力(两个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍钮扣电池元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥ 2.00 Kgf 判合格。 | 2.00 | 3.10 | 焊盘未脱 | 合格 |
1602-XH414E-0010 | 推力(两个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍钮扣电池元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥ 2.00 Kgf 判合格。 | 2.00 | 4.30 | 焊盘未脱 | 合格 | ||
6 | 六脚 IC | 1401-RT9285-0000 | 推力(六个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍6脚 IC元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥2.00Kgf判合格。 | 2.00 | 3.60 | 焊盘脱 | 合格 |
7 | 五脚 IC | 1401-RP103N-0020 | 推力(五个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍5脚 IC元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥2.00Kgf判合格。 | 2.00 | 4.10 | 焊盘未脱 | 合格 |
8 | 晶振 | 2200-T0H260-0000 | 推力(两个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍晶振元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥2.50Kgf判合格。 | 2.50 | 4.30 | 焊盘未脱 | 合格 |
9 | RF连接器 | 2106-2610RM-0000 | 推力(六个脚) |
| 推力计 | 1、消除阻碍RF连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥3.00Kgf判合格。 | 3.00 | 8.20 | 焊盘未脱,但RF变形 | 合格 |
10 | 微动开关 | 2001-LS10N2-0000 | 推力(两个脚) |
| 推力计 | 1、检查元器件是否为良品,将元器件平放于平台上; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥5.50 Kgf判合格。 | 5.50 | 6.20 | 焊盘未脱 | 合格 |
11 | 电池连接器 | 2107-BC175W-0000 | 推力 (四个触片/四个脚) | 推力计 | 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥2.70Kgf Kgf判合格。 | 2.70 | 7.60 | 焊盘未脱落,但连接器变形 | 合格 | |
2107-BC5070-0000 | 推力 (三个触片/五个脚) | 推力计 | 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件破裂的力,≥ 3.00 Kgf 判合格。 | 3.00 | 7.50 | 焊盘未脱落,但塑胶破裂变形 | 合格 | |||
2107-BC2715-0000 | 推力 (三个触片/五个脚) | 推力计 | 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件破裂的力,≥ 3.00 Kgf 判合格。 | 3.00 | 7.40 | 焊盘未脱落,但塑胶破裂变形 | 合格 | |||
12 | 耳机插座 | 2114-N01015-0000 | 推力(小) 从插孔处向后推 备注:有定位孔 | 推力计 | 1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥ 8.00 Kgf 判合格。 | 8.00 | 9.10 | 焊盘未脱落,但塑胶破裂变形 | 合格 | |
2103-010150-0000 | 推力(小) 从后向插孔处推 备注:无定位孔 |
| 推力计 | 1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥ 8.00 Kgf 判合格。 | 8.00 | 9.80 | 焊盘未脱落 | 合格 |
元器件焊接强度推力测试标准 | ||||||||||
NO | 物料名称 | 物料编码 | 检测方式 | 图片 | 试验仪器 | 测试方法 | 推力标准(Kgf) | 实际试验推力(Kgf) | 试验结果 | 判定 结果 |
1 | CHIP0402 | 0602-220J8A-B000 | 推力 | | 推力计 | 1、消除阻碍0402元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、 ≥0.60Kgf判合格。 | 0.60 | 1.00 | 焊盘未脱 | 合格 |
2 | CHIP0603 | 0602-225K2C-C000 | 推力 | | 推力计 | 1、消除阻碍0603元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥1.00Kgf判合格。 | 1.00 | 1.30 | 焊盘未脱 | 合格 |
3 | CHIP0805 | 0602-106M2C-D000 | 推力 | 推力计 | 1、消除阻碍0805元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥1.50Kgf判合格。 | 1.50 | 2.10 | 焊盘未脱 | 合格 | |
4 | SIM卡 | 2105-06W129-0010 | 推力 (六个脚) | | 推力计 | 1、消除阻碍SIM卡元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否破裂,记录元器件破裂的数值; 4、≥ 6.00 Kgf 判合格。 | 6.00 | 9.05 | 焊盘未脱,但塑胶变形 | 合格 |
2105-50006P-0000 | 推力 (六个脚) | | 推力计 | 1、消除阻碍SIM卡元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否破裂,记录元器件破裂的数值; 4、≥ 5.00 Kgf 判合格。 | 9.20 | 焊盘未脱,但塑胶变形 | 合格 | |||
2105-CCA242-0000 | 推力(六个脚) (左右方向) | | 推力计 | 1、消除阻碍SIM卡元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否破裂,记录元器件破裂的数值; 4、≥ 5.00 Kgf 判合格。 | 5.00 | 7.30 | 焊盘未脱,但塑胶变形 | 合格 | ||
5 | 钮扣电池 | 1602-XH414E-0000 | 推力(两个脚) | | 推力计 | 1、消除阻碍钮扣电池元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥ 2.00 Kgf 判合格。 | 2.00 | 3.10 | 焊盘未脱 | 合格 |
1602-XH414E-0010 | 推力(两个脚) | | 推力计 | 1、消除阻碍钮扣电池元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥ 2.00 Kgf 判合格。 | 2.00 | 4.30 | 焊盘未脱 | 合格 | ||
6 | 六脚 IC | 1401-RT9285-0000 | 推力(六个脚) | | 推力计 | 1、消除阻碍6脚 IC元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥2.00Kgf判合格。 | 2.00 | 3.60 | 焊盘脱 | 合格 |
7 | 五脚 IC | 1401-RP103N-0020 | 推力(五个脚) | | 推力计 | 1、消除阻碍5脚 IC元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥2.00Kgf判合格。 | 2.00 | 4.10 | 焊盘未脱 | 合格 |
8 | 晶振 | 2200-T0H260-0000 | 推力(两个脚) | | 推力计 | 1、消除阻碍晶振元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥2.50Kgf判合格。 | 2.50 | 4.30 | 焊盘未脱 | 合格 |
9 | RF连接器 | 2106-2610RM-0000 | 推力(六个脚) | | 推力计 | 1、消除阻碍RF连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥3.00Kgf判合格。 | 3.00 | 8.20 | 焊盘未脱,但RF变形 | 合格 |
10 | 微动开关 | 2001-LS10N2-0000 | 推力(两个脚) | | 推力计 | 1、检查元器件是否为良品,将元器件平放于平台上; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥5.50 Kgf判合格。 | 5.50 | 6.20 | 焊盘未脱 | 合格 |
11 | 电池连接器 | 2107-BC175W-0000 | 推力 (四个触片/四个脚) | 推力计 | 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥2.70Kgf Kgf判合格。 | 2.70 | 7.60 | 焊盘未脱落,但连接器变形 | 合格 | |
2107-BC5070-0000 | 推力 (三个触片/五个脚) | 推力计 | 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件破裂的力,≥ 3.00 Kgf 判合格。 | 3.00 | 7.50 | 焊盘未脱落,但塑胶破裂变形 | 合格 | |||
2107-BC2715-0000 | 推力 (三个触片/五个脚) | 推力计 | 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件破裂的力,≥ 3.00 Kgf 判合格。 | 3.00 | 7.40 | 焊盘未脱落,但塑胶破裂变形 | 合格 | |||
12 | 耳机插座 | 2114-N01015-0000 | 推力(小) 从插孔处向后推 备注:有定位孔 | 推力计 | 1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥ 8.00 Kgf 判合格。 | 8.00 | 9.10 | 焊盘未脱落,但塑胶破裂变形 | 合格 | |
2103-010150-0000 | 推力(小) 从后向插孔处推 备注:无定位孔 | | 推力计 | 1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示)进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥ 8.00 Kgf 判合格。 | 8.00 | 9.80 | 焊盘未脱落 | 合格 |
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